物联网技术应用专题展报道

——国家标准委纪正昆主任参观物联网专题展区

      SCAN CHINA2010 展会上，展区特设“物联网技术应用” 专题展区。“物联网技术应用” 专题展区通过展板向参观者展示物联网的发展、物联网技术、物联网应用案例、物联网人才培养、物联网实验室解决方案等。

      第十七届国际自动识别技术展览会开幕式后，国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会、中国物品编码中心、中国自动识别技术协会等单位的负责人陪同标准委纪正昆主任参观了“物联网技术应用” 专题展区。 

纪正昆主任（一排左三）、张成海主任（一排左二）、石保权副主任（一排左四）、张铎（一排左一）

      国家质量监督检验检疫总局党组成员、国家标准化管理委员会主任纪正昆在中国物品编码中心主任张成海的陪同下参观了 “物联网实验箱”、“物联网资产管理系统”、“物联网数码笔系统”、“物联网智能家居系统”等应用演示。在参观过程中，纪正昆主任多次指出，物联网的应用要和人民生活紧密结合在一起，物联网的宣传要生活化，让老百姓能听得懂。 

中国物品编码中心主任张成海陪同国家标准委纪正昆主任参观“物联网技术应用” 专题展区

国家标准委纪正昆主任参观“3G手机系统”遥控“智能家居系统”